A. 探测器的宽度~||~准直器的宽度~||~滤过器~||~X线束强度~||~X线束剂量

A. 033～05mm~||~05～1mm~||~1～2mm~||~3～5mm~||~5～10mm

A. 常规扫描~||~定位扫描~||~连续扫描~||~动态扫描~||~重叠扫描

A. 蝶鞍区出现的环形伪影~||~颞部出现的条纹状伪影~||~颞颌关节出现的条纹状伪影~||~鼻窦旁出现的条纹状伪影~||~颅顶部出现的环形伪影

A. 真正的断面图像~||~密度分辨力高于常规X线检查~||~空间分辨力高于常规X线检查~||~可作定量分析~||~可利用计算机作各种图像处理

A. 喉部~||~肺部~||~甲状腺~||~肾上腺~||~浸润性病变

A. 鼻和鼻窦~||~眼眶~||~内耳~||~鼻咽~||~颧骨

A. 大幅度减少散射线的干扰~||~决定扫描层的厚度~||~减少受检者的放射剂量~||~决定像素的大小~||~改善图像质量

A. 优化采样扫描~||~Z轴滤过长轴内插法~||~多层孔束体层重建~||~扇形束重建~||~Feldkamp重建

A. 给受检者做手势指令~||~捏捂受检者鼻口~||~嘱受检者口式呼吸~||~嘱受检者腹式呼吸~||~增大毫安，减短曝光时间

A. 物质的衰减系数~||~X线通过的距离~||~X线入射的强度~||~通过物体的厚度~||~物体的面积

A. 运动伪影~||~金属伪影~||~射线束硬化~||~部分容积伪影~||~噪声引起的伪影

A. 螺距因子或射线束螺距~||~探测器螺距或容积螺距~||~螺距因子或探测器螺距~||~容积螺距或射线束螺距~||~探测器螺距或射线束螺距

A. 10%～20%~||~20%～30%~||~30%～40%~||~40%～50%~||~50%～60%

A. 胸11椎体中部~||~胸12椎体中部~||~腰1椎体上部~||~腰1椎体中部~||~腰1椎体下部

A. W300～500Hu，C30～50Hu~||~W500～1000Hu，C30～50Hu~||~W1000～2000Hu，C30～50Hu~||~W1000～2000Hu，C300～500Hu~||~W1600～2000Hu，C600～800Hu

A. 部分容积效应主要有两种现象：部分容积均化和部分容积伪影~||~部分容积均化影响CT值的准确测量~||~部分容积伪影产生于衰减差别过大的组织~||~部分容积伪影最常见的现象是在头颅横断面扫描时颞部出现的条纹状伪影~||~部分容积伪影与射线硬化作用无关

A. 薄层扫描一般指层厚3～5mm~||~超薄层扫描一般指层厚1～2mm~||~薄层扫描的优点是减少伪影~||~薄层扫描的优点是能减少部分容积效应~||~扫描层厚越薄，图像的空间分辨力越高

A. 中央处理器~||~阵列处理器~||~反投影处理器~||~输入／输出设备~||~储存设备和通讯硬件

A. 只做横断平扫~||~只做脑部CTA~||~先做平扫后增强~||~直接增强~||~横断平扫加冠状扫描